雷尼绍展示多自由度光栅与精密测量技术

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在光电工程、精密制造和机床校准等领域，对高精度位置反馈与误差补偿的需求持续增长。雷尼绍将在 慕尼黑上海光博会（2026年3月18日至20日，中国上海）E7馆7201展台，展示其在精密测量领域的最新技术成果，并推出新一代多自由度（M-DoF）光栅系统。

该系统结合先进光栅技术与绝对式1.5D栅尺设计，可同时测量多达六个自由度，在高性能应用中实现对直线度、扭摆等误差的动态检测与补偿，从而提高系统精度与重复性。

光栅与磁栅：面向高精度位置与运动控制
雷尼绍提供覆盖多种应用场景的光栅与磁栅解决方案，用于高精度位置反馈与运动控制系统。

开放式光栅产品包括QUANTiC系列，强调小型化与安装便捷性；TONiC系列面向高精密运动控制；VIONiC系列则作为高性能产品，兼顾精度与可靠性。这些产品支持实时位置反馈或断电保持等不同工业需求。

在绝对式光栅方面，RESOLUTE系列采用图像传感技术，即使在污染环境中仍能保持稳定测量性能。此外，通过与RLS的协同开发，雷尼绍还提供定制化磁编码器解决方案，包括旋转和直线磁传感器，以满足复杂工况与严苛环境下的应用需求。

激光干涉测量：机床校准与误差补偿
在机床和精密运动平台的校准领域，激光干涉技术是实现高精度测量的重要手段。

雷尼绍XK20激光校准仪作为第二代系统，针对机床装配优化设计，可提高校准效率并减少人为误差，同时符合最新ISO标准要求。XM-60多光束激光干涉仪支持一次设置同时测量六个自由度误差，可用于分析机床几何误差来源，并实现二维或三维空间误差补偿。

XR20无线回转轴校准装置可实现高达±1角秒的测量精度，并可与XM-60或XL-80系统组合使用，对机床及运动平台的回转轴进行高精度校准。

在线检测系统：制造过程控制
在车间级质量控制中，在线检测系统需要兼顾重复性、适应性与测量效率。

Equator比对仪提供一种可重新编程的检测方案，适用于多品种零部件的在线检测。此次展出的系统结合接触式测量与影像检测技术，并引入影像AI分析能力，从而实现更全面的检测数据获取与过程控制。

拉曼光谱：扩展无损分析能力
在材料分析与科研应用中，拉曼光谱技术被广泛用于无损检测与成分分析。

雷尼绍展示的Virsa多功能拉曼光谱仪、inVia共焦显微拉曼光谱仪以及inLux联用接口，支持从实验室到复杂环境的多样化应用。其中，Virsa系统突破传统显微拉曼的使用限制，使光谱分析能够应用于更复杂的现场条件与样品类型。

面向未来的精密测量与自动化发展
随着制造业向高精度与自动化方向发展，测量技术在提升产品质量与生产效率中的作用愈发关键。雷尼绍此次展示的多类测量与校准技术，体现了从位置反馈到误差补偿再到材料分析的系统化解决方案。

展会期间（2026年3月18日至20日），相关技术将在上海E7馆7201展台集中展示，为工程师和制造企业提供针对高精度测量与过程优化的应用参考。

由工业记者娜塔妮娅·林多编辑——人工智能改编

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